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X射線(xiàn)熒光光譜分析(XRF) - 生產(chǎn)設(shè)備 - 生產(chǎn)設(shè)備
生產(chǎn)設(shè)備

X射線(xiàn)熒光光譜分析(XRF)

發(fā)布日期:2015年01月29日    瀏覽次數(shù):12679

x射線(xiàn)熒光光譜分析(xrf) 

   X射線(xiàn)熒光光譜分析(X Ray Fluorescence,XRF)由激發(fā)源(X射線(xiàn)管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線(xiàn)管產(chǎn)生入射X射線(xiàn)(一次X射線(xiàn)),激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線(xiàn),并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數(shù)量。然后,儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量。X射線(xiàn)照在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級(jí) X射線(xiàn)被稱(chēng)為X射線(xiàn)熒光。

  設(shè)備特點(diǎn):

(1)分析速度高:測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān),但一般都很短,2~5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素;

(2)X射線(xiàn)熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系(氣體密封在容器內(nèi)也可分析);

(3)非破壞分析:在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象,同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量,結(jié)果重現(xiàn)性好;

(4)X射線(xiàn)熒光分析是一種物理分析方法,所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析;

(5)分析精密度高;

(6)制樣簡(jiǎn)單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。