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磁特性測(cè)試儀 - 生產(chǎn)設(shè)備 - 生產(chǎn)設(shè)備
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磁特性測(cè)試儀

發(fā)布日期：2015年01月29日    瀏覽次數(shù)：12478

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 磁特性測(cè)試儀主要用于300毫米晶圓芯片的巨磁電阻、磁電、鐵氧體磁技術(shù)、磁存儲(chǔ)和具有霍爾效應(yīng)芯片的可靠性測(cè)試。


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